微區(qū)掃描電化學(xué)集電化學(xué)分析方法于一體
微區(qū)掃描電化學(xué)集電化學(xué)分析方法于一體
材料腐蝕的電化學(xué)測(cè)試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀測(cè)試,
測(cè)試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來(lái)，人們一直在探索局部電化學(xué)過(guò)程的研究。第一代掃描參比電極技術(shù)（SRET）能探測(cè)局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動(dòng)電極技術(shù)（SVET）采用振動(dòng)電極測(cè)量局部
（電流，電位〕隨遠(yuǎn)離被測(cè)電極表面位置的變化。
SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎(chǔ)上，又提出了采用掃描Kelvin振動(dòng)電極（SKP）測(cè)量不同材料表面功函數(shù)。
微區(qū)掃描電化學(xué)是集電化學(xué)分析方法于一體的電化學(xué)通用儀器。微區(qū)掃描電化學(xué)能完成線性伏安、循環(huán)伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安等電化學(xué)分析方法，還可以完成恒電位極化、恒電流極化，電位、電流、電量階躍和塔菲爾圖、交流阻抗等多項(xiàng)電化學(xué)測(cè)試功能。微區(qū)掃描電化學(xué)是在電化學(xué)工作站的基礎(chǔ)上加大輸出電流，提高掃描速度，提高電位、電流分辨率，微區(qū)掃描電化學(xué)在電化學(xué)測(cè)試方法上增加了脈沖電鍍方法、多種交流測(cè)試方法而成。微區(qū)掃描電化學(xué)系統(tǒng)軟件為方便使用者提供了強(qiáng)大的功能，包括文件管理，全面的實(shí)驗(yàn)控制，靈活的圖形顯示，方便的圖形放大、縮小和還原，位圖圖形和數(shù)據(jù)的導(dǎo)出，多種數(shù)據(jù)處理功能。
出色的性能：快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級(jí)研究的需求而特別設(shè)計(jì)。結(jié)合Uniscan獨(dú)特的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶可以選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的最佳配置
先進(jìn)和靈活的工作平臺(tái)：系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺(tái)。
全面的附件：7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長(zhǎng)距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
