4.預(yù)防方法
有許多方法可以降低ESD事件的可能性，以確保M470/M370組件在其使用壽命內(nèi)不受此類事件的影響。參考文獻部分提供了更多的參考資料供閱讀。
如果用戶遇到ESD時應(yīng)評估：
（1）程序?？蛻艚佑|過測量探針的尖端嗎？這對所有探針都有害，尤其是用于SKP和SECM的探針?？蛻羰欠袂‘?dāng)?shù)卮鎯μ结樅推渌舾薪M件？ESD敏感元件應(yīng)存放在ESD保護盒或袋中（帶有圖2所示的符號）。
（2）周圍環(huán)境。地板鋪地毯了嗎？附近有舊的CRT顯示器嗎？房間的濕度特別低嗎？工作桌面或使用者座椅是否會產(chǎn)生靜電？上述所有情況都使ESD發(fā)生的可能性更大[5]。
（3）實驗人員。用戶是否穿著合成服裝？這種材料更容易產(chǎn)生靜電，尤其是當(dāng)用戶脫下毛衣等合成服裝，然后觸摸儀器時[5]。
雖然可以通過一系列小的改變來限制ESD事件，但當(dāng)ESD特別持久時，可能需要采取更嚴(yán)格的方法。在這種情況下，防護選項包括但不限于：
—在使用設(shè)備之前，使用接地防靜電墊等釋放積聚在身體上的任何靜電。
—如果問題是局部的，請使用ESD腕帶。這些都很容易買到。
—當(dāng)問題比較普遍時，使用ESD安全實驗室涂層。
5.結(jié)論
M470/M370微區(qū)掃描電化學(xué)工作站有可能被ESD事件損壞的部件是靜電計和探針。但是，也必須注意儀器的其他所有組件。本文提出了減少和防止ESD的措施。這些都表明，通過一些小的改變，用戶可以最大限度地減少儀器因ESD損壞而停機的可能。
參考文獻
1. J. E. Vinson, J. J. Liou, Proceedings of the IEEE 86 （1998） 399-418
2. EOS/ESD Association, Inc. 2013, Fundamentals of Electrostatic Discharge: Part One – An Introduction, EOS/ESD Association, Inc. accessed 15 May 2018
3. Intel 2016, Electrostatic Discharge and Electrical Overstress Guide, Intel, accessed 15 May 2018
4. N. Nioradze, R. Chen, J. Kim, M. Shen, P. Santhosh, S. Amemiya, Analytical Chemistry 85 （2013） 6198-6202
5. J. E. Vinson, J. J. Liou, Proceedings of the IEEE 88 （2000） 1878-1900
